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Elétron viga micro analisador
Por último atualize data 7 de janeiro de 2019
Introdução de dispositivo de elétron viga micro analisador (EPMA)
Resumo
Princípio
O raio de X característico que eu aceitei é emitido por um elemento que constitui uma amostra quando eu pus uma amostra debaixo da viga de elétron que eu tirei de filamento de W ou filamento de CeB6. Eu separo um raio de X característico todo comprimento de onda por um certo Canal Quatro cristal de espectro e meço isto. Como o raio de X característico se torna o comprimento de onda específico por um tipo elementar, o sistema é tal que tipo elementar e quantidade entendem por um comprimento de onda e a altura do cume que foi provido lá.
Característica
Não só eu sei um tipo elementar em um certo um ponto de medida, mas também posso conhecer o estado de distribuição elementar em uma linha e o aspecto. Eu posso mostrar o ingrediente da substância estrangeira que esparrama por um certo lugar como um mapa para cada elemento. O elemento pode descobrir elementos largos do quarto Seja (beryllium) da mesa periódica ao 90º U (urânio).
Coisa fraca
Como é o dispositivo que pode saber um tipo elementar e a situação de distribuição, sobre as análises como combinações orgânicas que só consistem em C e H, diminuições de informação. Além disso, é necessário cobrir a superfície com metal como Au ou o Pt sobre a amostra que não administra eletricidade finamente, e medir isto para pôr uma amostra debaixo da viga de elétron. Como para a superfície da amostra, no caso de uma amostra fraca, a superfície derrete para calor para ter uma febre por eletricidade que flui e pode ser queimada.
Desempenho de dispositivo e especificações
Um dispositivo número modelo: EPMA-1720 SHIMADZU CORPORAÇÃO
Tempo de introdução: Janeiro, 2016
Exemplo de medida
Imagem de observação da corrosão enterra. através de figura 1SEM
Imagem (os espetáculos de ponto brancos um lugar com muito O) que conferiu distribuição de O (oxigênio) por EPMA sobre um lugar mesmo como figura 2 figura 1
Taxa
Divisão | Unidade | Quantia de dinheiro |
---|---|---|
Análise qualitativa | Em 1 amostra 1 ponto de medida | 10,800 iene |
Análise qualitativa | Adição de 1 ponto de medida (limitado à mesma amostra) | 4,500 iene |
Análise qualitativa | Por causa de um pedaço de fotografia | 2,900 iene |
Revista análise, enquanto traçando | Em 1 amostra 1 ponto de medida (limitado à medida dentro de 3 elementos) | 30,500 iene |
Revista análise, enquanto traçando | Adição de 1 elemento de medida (limitado ao ponto de medida de equivalência) | 5,400 iene |
Sobre uma taxa
- Eu faço a soma da taxa de materiais especiais, uma coisa que precisa de trabalho e um estudo ou a investigação com o equivalency de despesas atual soma sobre um exame, análise ou uma preparação.
- Eu faço a soma da taxa da coisa que fixa um prazo em particular, e sou urgente ou a taxa para uso com uma soma 2 vezes tão grande quanto uma soma fixe.
- Seja uma pessoa que tem um escritório ou um escritório em Yokohama-shiMédio e negócio pequeno-de tamanho (o local externo) que eram fixo em lei fundamental de empreendimentos pequenos e médios Artigo 2Soma (quando houver uma fração menos de 100 iene, eu arredondo fora a quantia de fração de dinheiro a 100 iene.) de 1.3 vezes da soma para fixar a soma de uma taxa para afetar um pedido de.. ou a taxa para uso Eu faço isto.
- Soma (quando houver uma fração menos de 100 iene, eu arredondo fora a quantia de fração de dinheiro a 100 iene.) de 1.5 vezes da soma para fixar a soma de uma taxa para modificar o pedido da pessoa que não tem Endereço em Yokohama-shi ou o pessoal ou corporação ou outros grupos que não têm um escritório ou um escritório na cidade ou a taxa para uso Eu faço isto.
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