- Yokohama-shi tampam página
- Negócio
- Médio e apoio empresarial pequeno-de tamanho
- Apoio de administração
- Apoio sobre uma técnica, o desígnio
- Análise de exame, consulta técnica
- Aparato de exame principal
- Tipo de emissão de campo que esquadrinha microscópio de elétron
É o texto daqui.
Tipo de emissão de campo que esquadrinha microscópio de elétron
Por último atualize data 7 de janeiro de 2019
Introdução de dispositivo de tipo de emissão de campo que esquadrinha microscópio de elétron (FE-SEM)
Resumo
Princípio
Um elétron secundário acontece da superfície quando eu irradiar uma amostra com a viga de elétron que aconteceu com arma de elétron. Descobrindo o elétron secundário, pode observar irregularidades e o formulário específico da superfície de amostra.
Característica
Depende do estado da amostra para observar isto em ambiente de vazio alto, mas a observação do microdomain de centenas de milhares de tempos é possível.
Coisa fraca
Pode ser libertado gás por um vazio alto, e (coisa inclusive a umidade) não pode pôr o quarto de amostra no quarto de observação. Além disso, é necessário cobrir a superfície com metal como Au (baixa ampliação) ou o Pt (ampliação alta) sobre a amostra que não administra eletricidade finamente, e medir isto para pôr uma amostra debaixo da viga de elétron. Como para a superfície da amostra, no caso de uma amostra fraca, a superfície derrete para calor para ter uma febre por eletricidade que flui e pode ser queimada.
Desempenho de dispositivo e especificações
Um dispositivo número modelo: Produto fez por JSM-7800F JEOL Principal
Tempo de introdução: Fevereiro, 2017
Exemplo de medida
O ITO filmam que eu fiz pela figura 1 sol método de gel
(ampliação 80,000 vezes)
Taxa
Divisão | Unidade | Quantia de dinheiro |
---|---|---|
A observação de superfície | Em 1 amostra 1 ponto de medida | 5,700 iene |
A observação de superfície | Adição de 1 ponto de medida (limitado à mesma amostra) | 1,600 iene |
Análise qualitativa (energia dispersão tipo espectroscópio) | Em 1 amostra 1 ponto de medida | 8,400 iene |
Análise qualitativa (energia dispersão tipo espectroscópio) | Em 1 amostra 1 ponto de medida | 1,600 iene |
Traçando (energia dispersão tipo espectroscópio) | Em 1 amostra 1 ponto de medida (limitado à medida dentro de 3 elementos) | 25,100 iene |
Traçando (energia dispersão tipo espectroscópio) | Adição de 1 elemento de medida (limitado ao ponto de medida de equivalência) | 1,700 iene |
Sobre uma taxa
- Eu faço a soma da taxa de materiais especiais, uma coisa que precisa de trabalho e um estudo ou a investigação com o equivalency de despesas atual soma sobre um exame, análise ou uma preparação.
- Eu faço a soma da taxa da coisa que fixa um prazo em particular, e sou urgente ou a taxa para uso com uma soma 2 vezes tão grande quanto uma soma fixe.
- Seja uma pessoa que tem um escritório ou um escritório em Yokohama-shiMédio e negócio pequeno-de tamanho (o local externo) que eram fixo em lei fundamental de empreendimentos pequenos e médios Artigo 2Soma (quando houver uma fração menos de 100 iene, eu arredondo fora a quantia de fração de dinheiro a 100 iene.) de 1.3 vezes da soma para fixar a soma de uma taxa para afetar um pedido de.. ou a taxa para uso Eu faço isto.
- Soma (quando houver uma fração menos de 100 iene, eu arredondo fora a quantia de fração de dinheiro a 100 iene.) de 1.5 vezes da soma para fixar a soma de uma taxa para modificar o pedido da pessoa que não tem Endereço em Yokohama-shi ou o pessoal ou corporação ou outros grupos que não têm um escritório ou um escritório na cidade ou a taxa para uso Eu faço isto.
Investigação para esta página
Médio de Agência de Negócios econômico e Pescas Promoção Departamento médio empresarial pequeno-de tamanho e seção de promoção empresarial pequeno-de tamanho
Um telefone: 045-671-4236
Um telefone: 045-671-4236
Fac-símile: 045-664-4867
Um endereço de e-mail: ke-keiei@city.yokohama.jp
Chame ID: 609-362-275