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Tipo de emissão de campo que esquadrinha microscópio de elétron

Por último atualize data 7 de janeiro de 2019

Introdução de dispositivo de tipo de emissão de campo que esquadrinha microscópio de elétron (FE-SEM)

Formulário específico de emissão de campo que esquadrinha microscópio de elétron (FE-SEM)


Resumo

Princípio

Um elétron secundário acontece da superfície quando eu irradiar uma amostra com a viga de elétron que aconteceu com arma de elétron. Descobrindo o elétron secundário, pode observar irregularidades e o formulário específico da superfície de amostra.

Característica

Depende do estado da amostra para observar isto em ambiente de vazio alto, mas a observação do microdomain de centenas de milhares de tempos é possível.

Coisa fraca

Pode ser libertado gás por um vazio alto, e (coisa inclusive a umidade) não pode pôr o quarto de amostra no quarto de observação. Além disso, é necessário cobrir a superfície com metal como Au (baixa ampliação) ou o Pt (ampliação alta) sobre a amostra que não administra eletricidade finamente, e medir isto para pôr uma amostra debaixo da viga de elétron. Como para a superfície da amostra, no caso de uma amostra fraca, a superfície derrete para calor para ter uma febre por eletricidade que flui e pode ser queimada.

Desempenho de dispositivo e especificações

Um dispositivo número modelo: Produto fez por JSM-7800F JEOL Principal
Tempo de introdução: Fevereiro, 2017

Exemplo de medida

Medida exemplo 1
O ITO filmam que eu fiz pela figura 1 sol método de gel
(ampliação 80,000 vezes)


Taxa

Peça taxa de exame
DivisãoUnidadeQuantia de dinheiro
A observação de superfícieEm 1 amostra 1 ponto de medida5,700 iene
A observação de superfícieAdição de 1 ponto de medida
(limitado à mesma amostra)
1,600 iene
Análise qualitativa (energia dispersão tipo espectroscópio)Em 1 amostra 1 ponto de medida8,400 iene
Análise qualitativa (energia dispersão tipo espectroscópio)Em 1 amostra 1 ponto de medida1,600 iene
Traçando (energia dispersão tipo espectroscópio)Em 1 amostra 1 ponto de medida
(limitado à medida dentro de 3 elementos)
25,100 iene
Traçando (energia dispersão tipo espectroscópio)Adição de 1 elemento de medida
(limitado ao ponto de medida de equivalência)
1,700 iene

Sobre uma taxa

  • Eu faço a soma da taxa de materiais especiais, uma coisa que precisa de trabalho e um estudo ou a investigação com o equivalency de despesas atual soma sobre um exame, análise ou uma preparação.
  • Eu faço a soma da taxa da coisa que fixa um prazo em particular, e sou urgente ou a taxa para uso com uma soma 2 vezes tão grande quanto uma soma fixe.
  • Seja uma pessoa que tem um escritório ou um escritório em Yokohama-shiMédio e negócio pequeno-de tamanho (o local externo) que eram fixo em lei fundamental de empreendimentos pequenos e médios Artigo 2Soma (quando houver uma fração menos de 100 iene, eu arredondo fora a quantia de fração de dinheiro a 100 iene.) de 1.3 vezes da soma para fixar a soma de uma taxa para afetar um pedido de.. ou a taxa para uso Eu faço isto.
  • Soma (quando houver uma fração menos de 100 iene, eu arredondo fora a quantia de fração de dinheiro a 100 iene.) de 1.5 vezes da soma para fixar a soma de uma taxa para modificar o pedido da pessoa que não tem Endereço em Yokohama-shi ou o pessoal ou corporação ou outros grupos que não têm um escritório ou um escritório na cidade ou a taxa para uso Eu faço isto.

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